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法国特鲁瓦技术大学副校长Jérôme Plain应邀来我校交流访问

发表时间:2017年04月27日  |  作者:王睿  |  编辑:满志欣  |  资料来源:理学院  |  点击:[]

426日,应天津理工大学理学院邀请,法国特鲁瓦技术大学副校长Jérôme Plain教授来我校交流访问,并在6号教学楼106教室为理工师生作了题为《从近场光学到表面等离子体光学》的学术报告。

Jérôme Plain教授首先从本科生熟悉的瑞利散射和惠更斯——菲涅耳原理出发,详细介绍了近场光学的产生及发展历史。它是基于非辐射场的探测与成像原理,突破常规光学显微镜所受到的衍射极限,在超高光学分辨率下进行纳米尺度光学成像与纳米尺度光谱研究的一门新型交叉学科。随后他探讨了测量近场光学信息的几种方法,最后他针对表面等离子体的光学性质、应用前景以及发展趋势做总结。他还结合具体实例,深入浅出地为本科生介绍了研究团队最新的研究成果。同学们纷纷表示深受启发和鼓舞,并针对的报告进行了提问。 

Jérôme Plain教授简介:Jérôme Plain,法国特鲁瓦技术大学副校长、教授,研究领域为金属纳米材料设计与制备、材料的化学和光谱性质及其应用,在Nano letters ACSnanoOptical Materials ExpressACS PhotonicsAppliedPhysics Letters等期刊上发表研究论文100多篇。

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